Películas y láminas plásticas multicapa para envasado de alimentos.
Película/hoja de barrera (medición de capa)
← 8 m →
XRS thickness gauges are available in widths of up to 8 m
≤ 0,2 μm
Ultra-precise thickness measuring with an accuracy of ≤ 0,2 µm
Principio de medición
KAPA (para espesor total)
Se basa en un principio de medición de espesor indirecto y sin contacto. la capacitancia entre el sensor y el rodillo depende del dieléctrico de la hoja medida y de la distancia entre sensor al rodillo. Para eliminar la influencia de las fluctuaciones de distancia entre el sensor y el rodillo. Esta distancia se mide permanentemente con un sensor de corrientes parásitas (ubicado junto con sensor capacitivo en la misma carcasa). Según esta distancia medida el resultado de Se corrige el sensor capacitivo.
IR (para la capa de EVOH)
Se basa en un principio de medición de transmisión sin contacto. Para la determinación de el espesor de la capa de EVOH, se registra un amplio espectro infrarrojo del plástico y la La absorción resultante de las moléculas del polímero EVOH se evalúa utilizando nuestro moderno métodos analíticos.
Especificaciones técnicas
Datos técnicos
KAPA
KAPA IR
Sistema de medición
Corriente capacitiva/foucault
Infrarrojo
Rango de espesor
Hasta 3 mm
> 5 µm*
Brecha de medición
4.4 milímetros
35 milímetros
Resolución del sensor
≤ 0.1 µm
0.5 µm
Repetibilidad
≤ ± 0.5 µm
≤ 2 µm*
Velocidad de medición
10-300 mm/s adjustable
25 mm/s adjustable
Calibración
necesario para cada material
* Dependiendo del producto y calibración.
Descargue la hoja de datos en PDF para obtener especificaciones técnicas detalladas
XRS in Action
Contacta con nuestros expertos
Nuestros expertos están siempre disponibles para sus consultas y consultas técnicas. Por favor contactar ¡Consúltenos en cualquier momento en nuestra sede o consulte a los representantes locales de SBI Mechatronik en su país!