KAPA IR

Medición de la capa de barrera

Este dispositivo de medición de espesor sin contacto es para películas y láminas de hasta un espesor total de 3mm.

Está equipado con tecnología dual para medir el espesor total y también el espesor de la capa de barrera individual (porejemplo, EVOH, BVOH, Nylon).

Aplicaciones

Películas y láminas plásticas multicapa para envasado de alimentos.

Película/hoja de barrera (medición de capa)

← 8 m →

XRS thickness gauges are available in widths of up to 8 m

≤ 0,2 μm

Ultra-precise thickness measuring with an accuracy of ≤ 0,2 µm

Principio de medición

KAPA (para espesor total)

Se basa en un principio de medición de espesor indirecto y sin contacto. la capacitancia entre el sensor y el rodillo depende del dieléctrico de la hoja medida y de la distancia entre sensor al rodillo. Para eliminar la influencia de las fluctuaciones de distancia entre el sensor y el rodillo. Esta distancia se mide permanentemente con un sensor de corrientes parásitas (ubicado junto con sensor capacitivo en la misma carcasa). Según esta distancia medida el resultado de Se corrige el sensor capacitivo.

IR (para la capa de EVOH)

Se basa en un principio de medición de transmisión sin contacto. Para la determinación de el espesor de la capa de EVOH, se registra un amplio espectro infrarrojo del plástico y la La absorción resultante de las moléculas del polímero EVOH se evalúa utilizando nuestro moderno métodos analíticos.

Especificaciones técnicas

Datos técnicos KAPA KAPA IR
Sistema de medición Corriente capacitiva/foucault Infrarrojo
Rango de espesor Hasta 3 mm > 5 µm*
Brecha de medición 4.4 milímetros 35 milímetros
Resolución del sensor ≤ 0.1 µm 0.5 µm
Repetibilidad ≤ ± 0.5 µm ≤ 2 µm*
Velocidad de medición 10-300 mm/s adjustable 25 mm/s adjustable
Calibración necesario para cada material

* Dependiendo del producto y calibración.

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XRS in Action

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