Danke, Xi’an!
Wir freuten uns, unsere Technologien zur Dickenmessung und -kontrolle sowie zur Fehlererkennung auf der CTF-Konferenz vom 22. bis 25. November vorzustellen.
Vielen Dank an alle, die unseren Stand besucht haben – wir freuen uns über Ihr Interesse!
#CTF2024 #TechInnovation #Dickenmessung #Defekterkennung #China
