¡Gracias Xi’an!
Estuvimos felices de mostrar nuestras tecnologías de medición y control de espesor y detección de defectos en la conferencia CTF del 22 al 25 de noviembre.
Gracias a todos los que visitaron nuestro stand. ¡Apreciamos su interés!
#CTF2024 #Innovación tecnológica #Medición de espesores #Detección de defectos #China
